发明名称 用于声学监控及控制直通矽穿孔之显露处理的设备及方法;APPARATUS AND METHODS FOR ACOUSTICAL MONITORING AND CONTROL OF THROUGH-SILICON-VIA REVEAL PROCESSING
摘要 利用CMP(化学机械研磨)的TSV(直通矽穿孔)显露制程可经声学监控及控制,以侦测TSV断裂并自动响应该TSV断裂。在CMP制程期间,分析一或更多声学感测器接收的声射,以侦测TSV断裂,声学感测器设置邻接基板固持件及/或CMP系统的研磨垫。响应侦测到TSV断裂,可自动进行一或更多补救动作。在一些实施例中,研磨垫平台具有一或更多整合于研磨垫平台内的声学感测器,声学感测器伸入装设在研磨垫平台上的研磨垫。其他态样亦提供监控及控制TSV显露制程的方法。
申请公布号 TW201503995 申请公布日期 2015.02.01
申请号 TW103115201 申请日期 2014.04.28
申请人 应用材料股份有限公司 发明人 周松佑;苏布拉曼宁科米塞堤;马哈珍尤戴;史威克柏格斯劳A;巴札拉吉菲;邓健摄
分类号 B24B37/005(2012.01);H01L21/304(2006.01);H01L21/60(2006.01) 主分类号 B24B37/005(2012.01)
代理机构 代理人 蔡坤财李世章
主权项
地址 美国