发明名称 |
用于声学监控及控制直通矽穿孔之显露处理的设备及方法;APPARATUS AND METHODS FOR ACOUSTICAL MONITORING AND CONTROL OF THROUGH-SILICON-VIA REVEAL PROCESSING |
摘要 |
利用CMP(化学机械研磨)的TSV(直通矽穿孔)显露制程可经声学监控及控制,以侦测TSV断裂并自动响应该TSV断裂。在CMP制程期间,分析一或更多声学感测器接收的声射,以侦测TSV断裂,声学感测器设置邻接基板固持件及/或CMP系统的研磨垫。响应侦测到TSV断裂,可自动进行一或更多补救动作。在一些实施例中,研磨垫平台具有一或更多整合于研磨垫平台内的声学感测器,声学感测器伸入装设在研磨垫平台上的研磨垫。其他态样亦提供监控及控制TSV显露制程的方法。 |
申请公布号 |
TW201503995 |
申请公布日期 |
2015.02.01 |
申请号 |
TW103115201 |
申请日期 |
2014.04.28 |
申请人 |
应用材料股份有限公司 |
发明人 |
周松佑;苏布拉曼宁科米塞堤;马哈珍尤戴;史威克柏格斯劳A;巴札拉吉菲;邓健摄 |
分类号 |
B24B37/005(2012.01);H01L21/304(2006.01);H01L21/60(2006.01) |
主分类号 |
B24B37/005(2012.01) |
代理机构 |
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代理人 |
蔡坤财李世章 |
主权项 |
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地址 |
美国 |