一种半导体测试支架

摘要

本实用新型公开了一种半导体测试支架，包括底座、限位条、钢珠滚轮，所述底座两侧壁设有限位孔，所述限位条两侧壁设有定位孔，所述限位孔与所述定位孔位置相配，所述钢珠滚轮与所述限位孔连接，所述限位条与所述底座的卡槽形状相配且设置在所述底座的卡槽内，所述钢珠滚轮与所述定位孔锁死。本实用新型的优点是实现了支架的定位方式从线接触定位锁死改为定位点接触定位锁死，不易卡死、能够精确、快速定位并且安装过程简洁，操作简便，效率得到提高。

主权项

一种半导体测试支架，其特征在于：包括底座(1)、限位条(2)、钢珠滚轮(3)，所述底座(1)两侧壁设有限位孔(4)，所述限位条(2)两侧壁设有定位孔(5)，所述限位孔(4)与所述定位孔(5)位置相配，所述钢珠滚轮(3)与所述限位孔(4)连接，所述限位条(2)与所述底座(1)的卡槽形状相配且设置在所述底座(1)的卡槽内，所述钢珠滚轮(3)与所述定位孔(5)锁死。