发明名称 一种高晶体质量AlN外延层的生长方法
摘要 本发明涉及外延层生长技术领域,尤其涉及一种基于大倾角蓝宝石衬底上生长高晶体质量ALN外延层的方法。该生长方法采用大倾角蓝宝石衬底,包括以下步骤:烘烤衬底;低温沉积AlN成核层;升温退火;AlN高温外延生长,利用台阶聚效应导致的宏台阶降低位错密度;AlN表面形貌控制,提高生长速度修正表面形貌,促进所述宏台阶的减弱和消失,以获得表面平整的AlN表面。本发明提供了一种生长低位错密度和表面平整的高晶体质量AlN外延层的方法。本发明方法简单易行,且对MOCVD系统不会造成任何污染。
申请公布号 CN104319234A 申请公布日期 2015.01.28
申请号 CN201410542542.1 申请日期 2014.10.14
申请人 北京大学 发明人 许福军;沈波;秦志新;王嘉铭;张立胜;何晨光;杨志坚
分类号 H01L21/205(2006.01)I 主分类号 H01L21/205(2006.01)I
代理机构 北京路浩知识产权代理有限公司 11002 代理人 薛晨光
主权项 一种高晶体质量AlN外延层的生长方法,其特征在于,采用大倾角蓝宝石衬底,包括以下步骤:S1:烘烤衬底;S2:低温沉积AlN成核层;S3:升温退火;S4:AlN高温外延生长,利用台阶聚效应导致的宏台阶降低位错密度;S5:AlN表面形貌控制,提高生长速度修正表面形貌,促进所述宏台阶的减弱和消失,以获得表面平整的AlN表面。
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