发明名称 |
一种高晶体质量AlN外延层的生长方法 |
摘要 |
本发明涉及外延层生长技术领域,尤其涉及一种基于大倾角蓝宝石衬底上生长高晶体质量ALN外延层的方法。该生长方法采用大倾角蓝宝石衬底,包括以下步骤:烘烤衬底;低温沉积AlN成核层;升温退火;AlN高温外延生长,利用台阶聚效应导致的宏台阶降低位错密度;AlN表面形貌控制,提高生长速度修正表面形貌,促进所述宏台阶的减弱和消失,以获得表面平整的AlN表面。本发明提供了一种生长低位错密度和表面平整的高晶体质量AlN外延层的方法。本发明方法简单易行,且对MOCVD系统不会造成任何污染。 |
申请公布号 |
CN104319234A |
申请公布日期 |
2015.01.28 |
申请号 |
CN201410542542.1 |
申请日期 |
2014.10.14 |
申请人 |
北京大学 |
发明人 |
许福军;沈波;秦志新;王嘉铭;张立胜;何晨光;杨志坚 |
分类号 |
H01L21/205(2006.01)I |
主分类号 |
H01L21/205(2006.01)I |
代理机构 |
北京路浩知识产权代理有限公司 11002 |
代理人 |
薛晨光 |
主权项 |
一种高晶体质量AlN外延层的生长方法,其特征在于,采用大倾角蓝宝石衬底,包括以下步骤:S1:烘烤衬底;S2:低温沉积AlN成核层;S3:升温退火;S4:AlN高温外延生长,利用台阶聚效应导致的宏台阶降低位错密度;S5:AlN表面形貌控制,提高生长速度修正表面形貌,促进所述宏台阶的减弱和消失,以获得表面平整的AlN表面。 |
地址 |
100871 北京市海淀区颐和园路5号 |