基于测量参考点阵的低成本大尺寸精密几何尺寸测量系统

摘要

本发明涉及几何测量技术领域，特别是一种基于测量参考点阵的低成本大尺寸精密几何尺寸测量系统；包括测量参考点阵、空间坐标测量设备以及测量系统计算机；可移动的空间坐标测量设备通过测量其周边的三个或以上不在同一直线上的参考点确定了测量设备在测量空间的相对位置，进而能把空间坐标测量设备测量被测物体时获得的所有测量数据转换到统一的测量空间工作坐标系下，大幅扩大可移动的空间坐标测量设备的测量范围，同时避免了传统蛙跳等测量方法带来的误差累积，实现高效、高精度大尺寸测量，另外，本发明可大幅减少大型测量设备的固定资产投资，提高了测量可靠性，维护和使用成本大幅降低。

主权项

一种基于测量参考点阵的低成本大尺寸精密几何尺寸测量系统，其特征在于：包括：测量参考点阵(2)：包括固定分布在测量空间(1)中的若干个测量参考点(21)，所述测量参考点(21)的空间坐标经过标定；空间坐标测量设备(3)：可在所述测量空间(1)中任意移动，用于测量所述测量参考点(21)和被测物体(5)；测量系统计算机(4)：与所述空间坐标测量设备(3)相连接，用于预存所述测量参考点阵(2)的相关数据、处理所述空间坐标测量设备(3)所测量的数据；分布在所述测量空间(1)中的所述测量参考点阵(2)是经过标定的坐标已知的一组测量参考点(21)，所述测量参考点(21)在所述测量空间(1)的位置坐标预存于和所述空间坐标测量设备(3)相连的测量系统计算机(4)中，可移动的所述空间坐标测量设备(3)通过测量所述测量参考点阵(2)的任意不在同一直线上的三个以上测量参考点(21)确定其自身在所述测量空间(1)内的位置，进而将可移动的所述空间坐标测量设备(3)测量所得数据转换到所述测量空间(1)的预设的全局坐标系。