发明名称 一种频谱分析仪的控制与测量并行处理方法
摘要 本发明提出了一种频谱分析仪的控制与测量并行处理方法,在获取数据后,先进行下一次测量所需要的硬件电路设置,并记录当前的时刻,再启动频谱计算过程;频谱计算过程中,同时对硬件电路进行延迟;当频谱计算过程结束后,记录结束时刻,测算频谱计算所占用的时间,并与前面硬件电路设置时所反馈的延迟时间进行分析做比较:若还未满足硬件电路的延迟需要,则延迟剩余所需的时间;否则不再延迟,直接启动新的扫描。本发明能够实现测量与控制的并行处理、处理器资源最大利用;对原有的测量控制的源代码改动极少,具有较强的实用性;在单核CPU上就能取得良好的效果,对硬件要求低;接口简单清晰,易于使用,并具有良好的复用性。
申请公布号 CN104316764A 申请公布日期 2015.01.28
申请号 CN201410528921.5 申请日期 2014.09.25
申请人 中国电子科技集团公司第四十一研究所 发明人 马风军;邓旭亮;李晓军
分类号 G01R23/175(2006.01)I 主分类号 G01R23/175(2006.01)I
代理机构 代理人
主权项 一种频谱分析仪的控制与测量并行处理方法,其特征在于,在获取数据后,先进行下一次测量所需要的硬件电路设置,并记录当前的时刻,再启动频谱计算过程;频谱计算过程中,同时对硬件电路进行延迟;当频谱计算过程结束后,记录结束时刻,测算频谱计算所占用的时间,并与前面硬件电路设置时所反馈的延迟时间进行分析做比较:若还未满足硬件电路的延迟需要,则延迟剩余所需的时间;否则不再延迟,直接启动新的扫描。
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