发明名称 |
一种频谱分析仪的控制与测量并行处理方法 |
摘要 |
本发明提出了一种频谱分析仪的控制与测量并行处理方法,在获取数据后,先进行下一次测量所需要的硬件电路设置,并记录当前的时刻,再启动频谱计算过程;频谱计算过程中,同时对硬件电路进行延迟;当频谱计算过程结束后,记录结束时刻,测算频谱计算所占用的时间,并与前面硬件电路设置时所反馈的延迟时间进行分析做比较:若还未满足硬件电路的延迟需要,则延迟剩余所需的时间;否则不再延迟,直接启动新的扫描。本发明能够实现测量与控制的并行处理、处理器资源最大利用;对原有的测量控制的源代码改动极少,具有较强的实用性;在单核CPU上就能取得良好的效果,对硬件要求低;接口简单清晰,易于使用,并具有良好的复用性。 |
申请公布号 |
CN104316764A |
申请公布日期 |
2015.01.28 |
申请号 |
CN201410528921.5 |
申请日期 |
2014.09.25 |
申请人 |
中国电子科技集团公司第四十一研究所 |
发明人 |
马风军;邓旭亮;李晓军 |
分类号 |
G01R23/175(2006.01)I |
主分类号 |
G01R23/175(2006.01)I |
代理机构 |
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代理人 |
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主权项 |
一种频谱分析仪的控制与测量并行处理方法,其特征在于,在获取数据后,先进行下一次测量所需要的硬件电路设置,并记录当前的时刻,再启动频谱计算过程;频谱计算过程中,同时对硬件电路进行延迟;当频谱计算过程结束后,记录结束时刻,测算频谱计算所占用的时间,并与前面硬件电路设置时所反馈的延迟时间进行分析做比较:若还未满足硬件电路的延迟需要,则延迟剩余所需的时间;否则不再延迟,直接启动新的扫描。 |
地址 |
266555 山东省青岛市经济技术开发区香江路98号 |