发明名称 光学检测设备及方法
摘要 一种光学检测设备,系用以检测一弧面待测物,包含:一摄影机和一环形灯。该摄影机,间隔地面向一弧面待测物。该环形灯,位于该摄影机与该弧面待测物间,且其中心位在该摄影机与该弧面待测物的连线上,该环形灯分割成不同时发光的一第二发光部与一第一发光部,该第二发光部和该第一发光部会分别朝该弧面待测物发光,且其光线通过在该弧面待测物的表面漫射至该摄影机分别形成一第一影像与一第二影像。
申请公布号 TWI470214 申请公布日期 2015.01.21
申请号 TW102135559 申请日期 2013.10.01
申请人 由田新技股份有限公司 发明人 陈登文;林宥丞
分类号 G01N21/95 主分类号 G01N21/95
代理机构 代理人
主权项 一种光学检测设备,系用以检测一弧面待测物,包含:一摄影机,间隔地面向该弧面待测物;以及一环形灯,位于该摄影机与该弧面待测物间,且其中心位在该摄影机与该弧面待测物的连线上,该环形灯分割成不同时发光的一第二发光部与一第一发光部,该第二发光部和该第一发光部会分别朝该弧面待测物发光,且其光线通过在该弧面待测物的表面漫射至该摄影机分别形成一第一影像与一第二影像,其中,该第二发光部和该第一发光部对称地自该环形灯分割,使该第一发光部与该第二发光部之横截面分别呈一半圆形。
地址 新北市中和区连城路268号10楼之1 TW 10F.-1, NO. 268, LIANCHENG RD., JHONGHE DIST., NEW TAIPEI CITY 23553, TAIWAN (R. O. C.)