| 发明名称 | 一种数字阵列雷达天线的近场测试设备及其测试方法 | ||
| 摘要 | 本发明涉及一种数字阵列雷达天线的近场测试设备，包括近场测试系统，还包括DBF天线近场测试控制器，近场测试系统与DBF天线近场测试控制器之间双向通讯，DBF天线近场测试控制器与数字阵列雷达系统之间双向通讯，近场测试系统通过DBF天线近场测试控制器对数字阵列雷达系统进行DBF天线测试。本发明还公开了一种数字阵列雷达天线的近场测试设备的测试方法。本发明实现了近场测试系统对数字阵列雷达系统整机性能的直接测试，本发明可直接与数字阵列雷达系统进行对接，通过DBF天线近场测试控制器对数字阵列雷达系统时序的同步与控制，实现了近场测试系统与数字阵列雷达系统的协同工作，并且确保了数字阵列雷达系统的完整性。 | ||
| 申请公布号 | CN104297737A | 申请公布日期 | 2015.01.21 |
| 申请号 | CN201410576882.6 | 申请日期 | 2014.10.24 |
| 申请人 | 中国电子科技集团公司第三十八研究所 | 发明人 | 罗林;黄文涛;张再庆;刘浩;陈旭;陈玉林;金谋平 |
| 分类号 | G01S7/40(2006.01)I;G01R29/10(2006.01)I | 主分类号 | G01S7/40(2006.01)I |
| 代理机构 | 合肥金安专利事务所 34114 | 代理人 | 吴娜 |
| 主权项 | 一种数字阵列雷达天线的近场测试设备，包括近场测试系统，其特征在于：还包括DBF天线近场测试控制器，近场测试系统与DBF天线近场测试控制器之间双向通讯，DBF天线近场测试控制器与数字阵列雷达系统之间双向通讯，近场测试系统通过DBF天线近场测试控制器对数字阵列雷达系统进行DBF天线测试。 | ||
| 地址 | 230088 安徽省合肥市高新区香樟大道199号 | ||