发明名称 一种提高光刻胶与金属/金属化合物表面之间粘附力的方法
摘要 本发明涉及半导体制造领域,尤其涉及一种提高光刻胶与金属/金属化合物表面之间粘附力的方法。本发明公开了一种提高光刻胶与金属/金属化合物表面之间粘附力的方法,通过在传统的工艺流程中加入氧化气氛,氧化金属/金属化合物层上表面的金属,并于其上生长一层粘接过渡层,从而改善金属/金属化合物层上表面与光刻胶的附着力,以减少光刻胶脱落的风险和工艺缺陷的产生,提高工艺稳定性和器件的良率。
申请公布号 CN102610516B 申请公布日期 2015.01.21
申请号 CN201110206446.6 申请日期 2011.07.22
申请人 上海华力微电子有限公司 发明人 张亮;姬峰;胡友存;陈玉文;李磊
分类号 H01L21/312(2006.01)I 主分类号 H01L21/312(2006.01)I
代理机构 上海新天专利代理有限公司 31213 代理人 王敏杰
主权项 一种提高光刻胶与金属/金属化合物表面之间粘附力的方法,一半导体器件所包含的MIM结构的上表面设置有金属/金属化合物层,其特征在于,包括如下步骤:步骤S1:在100‑700℃的温度条件下利用含氧气体的等离子体对金属/金属化合物层的上表面进行氧化反应,使金属/金属化合物层的上表面上的金属氧化为金属氧化物;步骤S2:利用硅基有机物气体的等离子体对金属氧化物进行处理,形成覆盖金属/金属化合物层的上表面的粘结过渡层;步骤S3:在粘结过渡层上涂覆粘合促进层后,再旋涂光刻胶或直接在粘结过渡层上旋涂光刻胶。
地址 201210 上海市浦东新区张江高科技园区高斯路568号