| 主权项 |
1﹒一种化学分析器具有一试片定位装置,以就一样品配送器为准特分析试片自动定位而控制施加流体于试片,试片定位装置包括:邻靠化学分析器之可滑动式支承一分析试片之一插动台;及依第一方向以流体样品沈积区为准而将试片定位之装置;特点为定位装置进一步包括依与第一方向成直交并互相成直交之第二及第三方向移动台之装置,以找流体样品沈积区为准而将合所承载之试片定位。2﹒根据申请专利范围第1项之化学分析器,其中移动台之装置安装在一直线形轨条上,轨条限制台之运动成直线运动。3﹒根据申请专利范围第1项之化学分析器,其中依第二及第三方向移动台之装置包括马达驱动之一个双面凸轮。4﹒根据申请专利范围第3项之化学分折器,其中台包括在凸轮之径向凸轮表面上滑动之第一凸轮从动器及在凸输之另一凸输表面上滑动之第二凸输从动器。5﹒根据申请专利范围第1项之化学分析器,其中依第二及第三方向移动台之装置进一步包括监视以一基本位置为准之合位置之装置。6﹒一种化学分析器具有一培养器,导引分析试片至培养器之一试片轨道,及就一样品配送器为准而将试片定位之装置,定位装置包括;配置成在沈积区下运动之一台,台具有设制在轨道之至少一段之一试片导槽;及沿第一轴线以轨道为准而将一分析试片定位于试片导槽中之装置;特点为分析器进一步包括独立平移及抬升台之装置,以沿与第一轴线成直交并互相成直交之第二及第三轴线就轨道为准而平移及抬升台上所载之分析试片,藉以控制施加流体于分析试片上。7﹒根据申请专利范围第6项之化学分析器,其中台连接于一载具,载具在限制台运动之一固定轨条上被导引。8﹒根据申请专利范围第6项之化学分析器,其中定位装置包括一直线往复运动片,片接合试片并成片之直线移动之一函数而将试片定位。9﹒根据申请专利范围第6项之化学分析器,其中独立平移及抬升台之装置包括一从动凸轮,凸轮具有在半径及高度之预定表面变量,此等表面变量分别以沈积区为准而平移及抬升台。10﹒根据申请专利范围第9项之化学分析器,其中凸输上之预定半径表面变量位于与高度表面变量不同之角度位置,以进行台﹒之独立平移或抬升运动。11﹒根据申请专利范围第9项之化学分析器,其中凸轮被一步进马达驱动,及脱离一基本位置之合位置藉脱离基本位置之马达步进计数而予以监视。12﹒一种化学分析器包括一培养器,邻靠培养器之一侧之一电势电势读出站,与电势读出站成沿周边间隔之邻靠培养器之一比色读出站,适于形成悬垂流体滴之一流体样品配送器站,及用以将具有位置不同之流体沈积区之各试片就流体样品配送器站为准而垂直向定位之装置,以控制施加流体于各试片,定位装置包括:具有通至培养器之一导槽之一活动台,导槽构成在流体样品配送器站下之一试片支架,以容许一悬垂流体滴被沈积在试片之流体沈积区上;及一直线往复运动装置,用以将导槽中试片移向培养器及就流体样品配送器站为准而将试片定位;特点为分析器进一步包括凸轮从动装置,用以就互相并与往复运动装置之直线方向成直交之二方向移动台及其上承截之试片,以就流体样品配送器站为准平移及抬升试片而控制施加流体于试片。13﹒根据申请专利范围第12项之化学分析器,其中活动台被支持放在连接于一固定外壳之一轨条上行直线运动。14﹒根据申请专利范围第12项之化学分析器,其中凸轮从动装置包括具有预定径向变量及预定高度变量之一被旋转驱动凸轮。15﹒根据申请专利范围第14项之化学分析器,其中凸轮上径向变量位于与高度变量不同之角度位置,故凸轮所产生之平移及抬升运动互无关连。16﹒根据申请专利范围第12项之化学分析器,进一步包括感测以一基本位置为准之台之运动之装置。17﹒根据申请专利范围第12项之化学分析器,其中凸轮从动装置包括一被旋转驱动凸轮,凸轮具有变化之径向部份及变化之高度部份,凸轮上之各变化部份被各停止区分隔。图示简单说明图1为具有配合之本发明之试片定位装置之化学分析器之简化平面图。图2为用于化学分析器之一种分析试验元件例如比色元件之简化平面图。图3为用于化学分析器之另一种分析试验元件例如电势元件之简化平面图。图4为根据本发明之试定位装置之简化透视图。图5为沿图4之线5一5所取之本发明之试片定位装置之部份侧面断面图。图6为沿图5之线6一6B所取之本发明之试片之定位装置之部份正面断面图。图7为驱动凸轮元件之平面图。图8为图5所示凸轮元件之侧面图。 |
