发明名称 透明介质折射率的测量装置及测量方法
摘要 本发明提供一种利用激光回馈原理来测量透明介质折射率的装置。其特征在于:它以待测样品的位移产生的激光回馈条纹为研究对象,待测样品与标准样品具有相同楔角,在入射面垂直于激光轴线位移时,由于待测样品与标准样品在光路中的各自厚度发生变化,即激光外腔中的光程发生了变化,因此使激光输出光强曲线中产生回馈条纹。通过回馈条纹与位移量的关系,可以计算得到待测样品的折射率。本发明的折射率测量范围不受全反射原理的临界角限制,而且待测样品可以是透明固体、液体和气体,因此应用范围较广。本发明进一步提供一种测量透明介质折射率的方法。
申请公布号 CN102998284B 申请公布日期 2015.01.21
申请号 CN201210502668.7 申请日期 2012.11.30
申请人 清华大学 发明人 谈宜东;张鹏;张书练;牛海莎
分类号 G01N21/41(2006.01)I 主分类号 G01N21/41(2006.01)I
代理机构 深圳市鼎言知识产权代理有限公司 44311 代理人 哈达
主权项 一种透明介质折射率的测量装置,其特征在于,所述装置主要包括:一激光器;一样品池,所述样品池位于所述激光器下方以接收入射激光;一标准样品,所述标准样品置于所述样品池内,所述标准样品包括一面对激光器的第一表面以及相对的第二表面,所述第一表面为一斜面并接收入射激光,所述第二表面为一平面,所述第一表面与第二表面形成一楔角α;一回馈镜,所述回馈镜位于所述样品池下方,以反射从样品池出射的激光形成激光回馈;一位移探测装置,用于探测所述样品池的横向位移;一光电探测器,所述光电探测器位于所述激光器上方以接收激光信号并转换为电信号;以及一信号处理和控制系统,所述信号处理和控制系统与所述光电探测器和所述位移探测装置连接,以处理从光电探测器输入的信号并控制所述回馈镜的往复运动并接收光电探测器的探测结果。
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