发明名称 芯片测试夹
摘要 本实用新型涉及一种芯片测试夹,包括夹头,夹头包括夹持端和位于夹持端一侧的测试脚,测试脚外表面设置绝缘保护层,绝缘保护层为绝缘膜或绝缘漆。在芯片测试过程中,由于绝缘膜或绝缘漆的厚度较小,与传统的芯片测试夹相比,本实用新型芯片测试夹的夹头所占空间较小,同时绝缘膜或绝缘漆能够起到绝缘保护的作用。因此,本实用新型的芯片测试夹使用时不需要芯片附近有较大的间隔空间,非常方便在芯片布局较紧密的电路板上使用。
申请公布号 CN204116391U 申请公布日期 2015.01.21
申请号 CN201420564797.3 申请日期 2014.09.28
申请人 昆山工研院新型平板显示技术中心有限公司;昆山国显光电有限公司 发明人 刘成;王燕锋;高峰
分类号 G01R1/04(2006.01)I 主分类号 G01R1/04(2006.01)I
代理机构 广州华进联合专利商标代理有限公司 44224 代理人 唐清凯
主权项 一种芯片测试夹,包括夹头,所述夹头包括夹持端和位于所述夹持端一侧的测试脚,其特征在于,所述测试脚外表面设置绝缘保护层,所述绝缘保护层为绝缘膜或绝缘漆。
地址 215300 江苏省苏州市昆山市昆山高新区晨丰路188号
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