发明名称 用来测试具有复数种记忆卡规格之读卡器的测试卡
摘要 一种用来测试具有复数种记忆卡规格之读卡器的测试卡,其包含有一第一基板、一第二基板、一第一连接端子组与一第二连接端子组。该第二基板系部份嵌合于该第一基板之一表面,且该第二基板之一长度系实质上小于该第一基板之一长度。该第一连接端子组系设置于该第一基板之该表面之一端,且不被该第二基板遮蔽。该第一连接端子组系用来与一读卡器之一第一传输端子组接触以电性导通。该第二连接端子组系设置于该第二基板之一端,该第二连接端子组用来于该第一连接端子组与该第一传输端子组接触时与该读卡器之一第二传输端子组接触以电性导通。
申请公布号 TWI470238 申请公布日期 2015.01.21
申请号 TW100109857 申请日期 2011.03.23
申请人 纬创资通股份有限公司 新北市汐止区新台五路1段88号21楼 发明人 王震;柳根金;廖兵;高凯;郭建;黄磊;黄印
分类号 G01R31/02;G01R31/04;G01R31/26 主分类号 G01R31/02
代理机构 代理人 吴丰任 新北市永和区福和路389号6楼之3;戴俊彦 新北市永和区福和路389号6楼之3
主权项 一种用来测试具有复数种记忆卡规格之读卡器的测试卡,其包含有:一第一基板;一第二基板,其系部份嵌合于该第一基板之一表面,该第二基板之一长度系实质上小于该第一基板之一长度;一第一连接端子组,其系设置于该第一基板之该表面之一端,且不被该第二基板遮蔽,该第一连接端子组系用来与一读卡器之一第一传输端子组接触以电性导通;以及一第二连接端子组,其系设置于该第二基板之一端,该第二连接端子组系用来于该第一连接端子组与该第一传输端子组接触时与该读卡器之一第二传输端子组接触以电性导通。
地址 新北市汐止区新台五路1段88号21楼