| 发明名称 | 一种用高能质子进行空间位移损伤效应评估试验的方法 | ||
| 摘要 | 本发明涉及一种用高能质子进行空间位移损伤效应评估试验的方法，步骤如下：步骤1，航天器内部辐射环境计算，采用空间环境效应计算软件，输入地球轨道航天器的轨道参数值，空间辐射环境模型，航天器屏蔽厚度，计算航天器内部质子微分能谱；步骤2，选择质子，计算出的轨道中航天器内部质子微分谱，由于质子随能量不是均匀分布的，存在质子注量峰值，选择注量峰值对应的能量质子作为评估试验用质子；步骤3，试验用质子注量，计算试验用质子注量<img file="2014104839824100004dest_path_image001.GIF" wi="46" he="20" />；步骤4，辐照试验，用计算确定的能量的质子，辐照器件到规定的注量。辐照后，按产品规范要求进行电测试。 | ||
| 申请公布号 | CN104297585A | 申请公布日期 | 2015.01.21 |
| 申请号 | CN201410483982.4 | 申请日期 | 2014.09.22 |
| 申请人 | 中国空间技术研究院 | 发明人 | 于庆奎;罗磊;张洪伟;孙毅;祝名;唐民 |
| 分类号 | G01R31/00(2006.01)I | 主分类号 | G01R31/00(2006.01)I |
| 代理机构 | 济南舜源专利事务所有限公司 37205 | 代理人 | 李江 |
| 主权项 | 一种用高能质子进行空间位移损伤效应评估试验的方法，其特征在于该方法包括如下步骤：步骤1，航天器内部辐射环境计算，采用空间环境效应计算软件，输入地球轨道航天器的轨道参数值，空间辐射环境模型，航天器屏蔽厚度，计算航天器内部质子微分能谱；步骤2，选择质子，计算出的轨道中航天器内部质子微分谱，由于质子随能量不是均匀分布的，存在质子注量峰值，选择注量峰值对应的能量质子作为评估试验用质子；步骤3，试验用质子注量，计算试验用质子注量<img file="219949dest_path_image001.GIF" wi="46" he="22" />：<img file="657883dest_path_image002.GIF" wi="198" he="53" />，式中<img file="78501dest_path_image001.GIF" wi="46" he="22" />为试验用质子能量<img file="426436dest_path_image003.GIF" wi="22" he="18" />的注量，<img file="539886dest_path_image004.GIF" wi="64" he="22" />为能量为<img file="465117dest_path_image005.GIF" wi="18" he="18" />的质子非电离能损，<img file="564791dest_path_image006.GIF" wi="40" he="22" />为空间质子微分能谱，<img file="626288dest_path_image007.GIF" wi="52" he="18" />和<img file="910638dest_path_image008.GIF" wi="48" he="20" />分别为空间质子最大能量和最小能量，<img file="323165dest_path_image009.GIF" wi="69" he="22" />为能量为<img file="226530dest_path_image003.GIF" wi="22" he="18" />的质子非电离能损；步骤4，辐照试验，用所述步骤2计算确定的所述能量质子，辐照器件到根据所述步骤3所述质子注量，辐照后，按产品规范要求进行电测试。 | ||
| 地址 | 100080 北京市海淀区友谊路104号 | ||