发明名称 Interferómetros etalon acoplados
摘要 <p>Procedimiento de mejora de un interferómetro Fabry-Perot que tiene un plano (503) de la imagen y un detector óptico (306, 408, 512) dispuesto a lo largo de un eje óptico (310, 505), comprendiendo el procedimiento las etapas de: a) proporcionar un etalon (304, 406, 510) que tiene dos espejos paralelos parcialmente reflectantes; b) introducir (502) luz (302) para ser particularizada en un primer punto (502') fuera del eje en el plano (503) de la imagen, y hacer pasar dicha luz (302) a través de un objetivo de colimación y al etalon (304, 406, 510), de tal modo que una parte de la luz (302) se transmite al detector (306, 408, 512) y una parte de la luz (302) se refleja a un segundo punto (308, 502'`) fuera del eje en el plano (503) de la imagen, diferente al primer punto (502') fuera del eje; y c) detectar por lo menos una parte de la luz (302) reflejada al segundo punto (308, 502'`) fuera del eje en el plano (503) de la imagen.</p>
申请公布号 ES2527064(T3) 申请公布日期 2015.01.20
申请号 ES20000909895T 申请日期 2000.01.11
申请人 MICHIGAN AEROSPACE CORPORATION 发明人 HAYS, PAUL B.
分类号 G01B9/02;G01J3/26 主分类号 G01B9/02
代理机构 代理人
主权项
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