用于判定一散装材料之一表面之一拓朴分析的量测装置控制系统;MEASUREMENT DEVICE CONTROL SYSTEM FOR DETERMINING A TOPOLOGY OF A SURFACE OF A BULK MATERIAL

摘要

为判定一散装材料表面之拓朴分析，在天线之不同主要辐射方向上侦测一系列回波曲线。在程序中，该天线之该主要辐射方向以该系列回波曲线之所有产生之回波曲线皆可用于判定该散装材料表面之该拓朴分析之此一方式改变。因此，可缩减量测时间。