发明名称 半导体装置;SEMICONDUCTOR DEVICE
摘要 本发明揭示一种半导体装置,其包含:一基板;一绝缘体层,其提供于该基板上;一第一电晶体,其提供于该绝缘体层上;一半导体层,其包含一第一传导类型之复数个杂质区域,该等杂质区域形成该第一电晶体之一部分;一散热层;一导热层,其连结该半导体层及该散热层;及一中断结构,其经组态以中断该第一电晶体与该导热层之间之一电流之一流动。; an insulator layer provided on the substrate; a first transistor provided on the insulator layer; a semiconductor layer including a plurality of impurity regions of a first conduction type, the impurity regions forming a part of the first transistor; a heat dissipation layer; a thermal conductive layer linking the semiconductor layer and the heat dissipation layer; and an interruption structure configured to interrupt a flow of a current between the first transistor and the thermal conductive layer.
申请公布号 TW201503372 申请公布日期 2015.01.16
申请号 TW103118496 申请日期 2014.05.27
申请人 新力股份有限公司 发明人 福崎勇三;安茂博章
分类号 H01L29/78(2006.01);H01L23/34(2006.01) 主分类号 H01L29/78(2006.01)
代理机构 代理人 陈长文
主权项
地址 日本