发明名称 离子束处理方法及离子束处理装置
摘要 本发明的一实施形态相关之离子束蚀刻方法,系具有:在离子束(2b)因遮挡件(5)而未照射于基板(4a)之第1状态下,对于第1电极(307),施加供以于真空容器1将离子作引出之正的电压之程序(11b);在第1状态下,于内部空间内使电浆产生之程序(12b);藉在第1状态下形成对于第1电极(307)系施加正的电压并对于第2电极(308)系施加负的电压之第2状态,以形成离子束(2b)之程序(13);以及使遮挡件(5)移动,以离子束(2b)对于基板(4a)作照射,而处理该基板之程序(20b)。
申请公布号 TW201503207 申请公布日期 2015.01.16
申请号 TW103107670 申请日期 2014.03.06
申请人 佳能安内华股份有限公司 发明人 神谷保志;赤坂洋;昆野优太
分类号 H01J37/08(2006.01);H01J37/305(2006.01) 主分类号 H01J37/08(2006.01)
代理机构 代理人 林志刚
主权项
地址 日本