| 摘要 |
<p>Die vorliegende Erfindung betrifft ein Verfahren zur spektrometrischen Reflexionsmessung an einer sphärischen Fläche (2) eines optischen Bauteils (1), wobei zur Reflexionsmessung ein an der sphärischen Fläche (2) des optischen Bauteils reflektierter Messstrahl (4) verwendet wird, wobei ein senkrecht auf die sphärische Fläche (2) einfallender Messstrahlengang (14) mittels einer Fokussieroptik (11) auf die sphärische Fläche (2) fokussiert wird, wobei anschließend zur Reflexionsmessung an einem beliebigen Punkt der sphärischen Fläche (2) das optische Bauteil (1) um zwei zueinander senkrechte und durch den Krümmungsmittelpunkt der sphärischen Fläche verlaufende Drehachsen (5, 6) bewegt wird, wobei während der Bewegung des Bauteils (1) der Fokus des Messstrahlengangs (14) unverändert auf der sphärischen Fläche (2) des Bauteils (1) verbleibt.</p> |
