发明名称 Procedimiento de inspección de superficies para la detección de defectos de la superficie y/o medir la topografía de la superficie
摘要 Procedimiento de inspección de superficies para la detección de defectos de la superficie y/o medir la topografía de la superficie de superficies continuamente reflectantes, especialmente superficies reflectantes de bandas de metal, especialmente bandas de metal en movimiento, en el que - una cámara hace una toma de una muestra representada sobre una pantalla, que está diseñada de tal manera que representa como minimo puntos de corte de líneas, en donde - la dirección visual de la cámara está dirigida hacia una zona de la superficie reflectante y - la superficie de la pantalla sobre la que está representada la muestra está situada y orientada hacia esa zona de tal manera que el paso de rayos de los rayos visuales de la cámara lleva desde la cámara a través de la superficie reflectante hasta la superficie de la pantalla y - la cámara está enfocada sobre la superficie de la pantalla, - en donde la toma quedará depositada como matriz A en la que cada valor aij corresponde con el valor medido que la cámara ha tomado en el lugar de pixel iij, en donde el valor máximo I del índice i corresponde al número de lugares de pixel en una primera dirección de ensanchamiento de la superficie de toma de la cámara y el valor máximo J del índice j corresponde al número de lugares de pixel en una segunda dirección de ensanchamiento. - la matriz A es transformada en una matriz B mediante una binarización en donde cada valor bij tiene o el valor 1 o valor 0. - La imagen binaria representada por la matriz B es enviada a un proceso de esqueletizacion en el que en un sistema de coordenadas cuyos ambos ejes corresponden a ambos índices de la matriz, se calculan trazados de líneas a lo largo de los cuales los valores bij son iguales y después de ello se genera una tabla de puntos de corte que reproduce la posición espacial de los puntos de corte de los trazados de línea en el sistema de coordenadas. - con ayuda de un procedimiento iterativo a partir de la tabla de puntos de corte generada a partir de una toma se calcula entonces un trazado de una superficie modelo para la superficie reflectante considerada.
申请公布号 ES2526825(T3) 申请公布日期 2015.01.15
申请号 ES20080012399T 申请日期 2008.07.09
申请人 VDEH-BETRIEBSFORSCHUNGSINSTITUT GMBH 发明人 KRAMBEER, HAGEN;MÜLLER, ULRICH DR.;COEN, GÜNTHER DR.;POLZER, JAN DR.
分类号 G01B11/25;B21B38/02;G01B11/30;G01M11/00 主分类号 G01B11/25
代理机构 代理人
主权项
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