发明名称 |
用于X射线检查的测量场的选择 |
摘要 |
本发明涉及一种对由多个测量场构成的测量室的至少一个测量场的选择,所述测量场用于在X射线拍摄对象时监视剂量。在此,通过选择对象的取向预设了测量室的多个测量场的测量场子集。不属于测量场子集的测量场被禁止选择。并且通过选择测量场子集的测量场确定至少一个用于在对对象进行的X射线拍摄时监视剂量的测量场。本发明确保了在选择测量室时的更高的操作安全性。 |
申请公布号 |
CN104274195A |
申请公布日期 |
2015.01.14 |
申请号 |
CN201410317460.7 |
申请日期 |
2014.07.04 |
申请人 |
西门子公司 |
发明人 |
C-G.施莱尔曼 |
分类号 |
A61B6/00(2006.01)I;G01N23/02(2006.01)I |
主分类号 |
A61B6/00(2006.01)I |
代理机构 |
北京市柳沈律师事务所 11105 |
代理人 |
谢强 |
主权项 |
一种用于选择由多个测量场构成的测量室的至少一个测量场的方法,用于在对对象进行X射线拍摄时监视剂量,其中:‑通过选择对象的取向预设来自于所述测量室的多个测量场的测量场子集;‑不属于所述测量场子集的测量场被禁止选择;并且‑通过从所述测量场子集中选择测量场确定至少一个测量场,用于在对对象进行X射线拍摄时监视剂量。 |
地址 |
德国慕尼黑 |