发明名称 一种利用超声相控阵检测孔型缺陷的定量评价方法
摘要 本发明涉及一种利用超声相控阵检测孔型缺陷的定量评价方法,当超声波束遇到一定深度的孔型缺陷时,大部分的声波发生反射,只有少部分的声波发生衍射绕过孔型缺陷传播,探头接收到孔型缺陷的反射回波和衍射回波,利用二者的声程差对孔型缺陷进行定量评价。本发明与普通的超声相控阵相比,其技术效果为:增加了定量的功能,从原理上也为相控阵定量提供了一种新的定量方法,并提出利用衍射回波进行定量评价的概念,开拓衍射波检测的新思路。采用本发明方法可以准确、快速的对孔型缺陷的孔径大小做出评价,操作方法简单、方便。
申请公布号 CN104280458A 申请公布日期 2015.01.14
申请号 CN201410603553.6 申请日期 2014.11.03
申请人 南昌航空大学 发明人 陆铭慧;潘文超;邓勇;刘勋丰
分类号 G01N29/04(2006.01)I;G01B17/00(2006.01)I 主分类号 G01N29/04(2006.01)I
代理机构 南昌洪达专利事务所 36111 代理人 刘凌峰
主权项 一种利用超声相控阵检测孔型缺陷的定量评价方法,其特征在于方法步骤如下:(1)采用多阵元的阵列式换能器对带有孔型缺陷的样品进行检测;(2)采集到反射回波声程 QUOTE<img file="115032dest_path_image001.GIF" wi="15" he="27" />,衍射回波声程 QUOTE<img file="2014106035536100001dest_path_image002.GIF" wi="15" he="27" />和爬波传播的距离 QUOTE<img file="343757dest_path_image003.GIF" wi="18" he="27" />;(3)反射回波声程与衍射回波声程的声程差在数值上等于孔型缺陷周长的一半,孔型缺陷的直径为 QUOTE<img file="2014106035536100001dest_path_image004.GIF" wi="9" he="27" />,即:QUOTE<img file="185811dest_path_image005.GIF" wi="173" he="36" />;(4)通过计算得到孔型缺陷的直径 QUOTE<img file="581021dest_path_image004.GIF" wi="9" he="27" />,即:QUOTE<img file="2014106035536100001dest_path_image006.GIF" wi="99" he="36" />。
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