| 发明名称 | 缺陷检查方法 | ||
| 摘要 | 一种薄膜的缺陷检查方法，在薄膜的第一主面侧配置具有700000cd/m<sup>2</sup>以上的亮度的高亮度光源，在薄膜的第二主面侧从偏离了高亮度光源的光轴的位置，通过目视观察被高亮度光源照明的薄膜的图像。 | ||
| 申请公布号 | CN104280405A | 申请公布日期 | 2015.01.14 |
| 申请号 | CN201410318251.4 | 申请日期 | 2014.07.04 |
| 申请人 | 住友化学株式会社 | 发明人 | 小林信次;波冈诚;森定郁夫;及川伸 |
| 分类号 | G01N21/95(2006.01)I | 主分类号 | G01N21/95(2006.01)I |
| 代理机构 | 上海市华诚律师事务所 31210 | 代理人 | 肖华 |
| 主权项 | 一种缺陷检查方法，其是薄膜的缺陷检查方法，其特征在于，在所述薄膜的第一主面侧配置具有700000cd/m<sup>2</sup>以上的亮度的高亮度光源，在所述薄膜的第二主面侧从偏离了所述高亮度光源的光轴的位置，通过目视观察被所述高亮度光源照明的所述薄膜的图像。 | ||
| 地址 | 日本东京都中央区新川二丁目27番1号 | ||