发明名称 利用单个发光粒子检测的粒子的扩散特性值的测量方法
摘要 本发明提供一种使用利用共焦显微镜或多光子显微镜的光测量的扫描分子计数法来测量发光粒子的扩散特性值(例如扩散系数)的方法。本发明的测量发光粒子的扩散特性值的方法的特征在于通过变更显微镜的光学系统的光路来使光学系统的光检测区域的位置在样本溶液内沿着规定的路径周期性地移动的同时测量光的强度来生成光强度数据,根据在该光强度数据上的与同一发光粒子对应的多个信号的、产生时间的间隔中的与光检测区域的移动周期偏移的偏移时间来计算发光粒子的扩散特性值。
申请公布号 CN103154708B 申请公布日期 2015.01.14
申请号 CN201180049568.7 申请日期 2011.10.04
申请人 奥林巴斯株式会社 发明人 田边哲也;山口光城
分类号 G01N21/64(2006.01)I 主分类号 G01N21/64(2006.01)I
代理机构 北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙) 11277 代理人 刘新宇
主权项 一种使用共焦显微镜或多光子显微镜的光学系统来对在样本溶液中分散且随机运动的发光粒子的扩散特性值进行测量的方法,该方法包括以下步骤:通过变更上述光学系统的光路,使上述光学系统的光检测区域的位置在上述样本溶液内沿着规定的路径周期性地移动;一边使上述光检测区域的位置在上述样本溶液内移动,一边测量来自上述光检测区域的光的强度来生成光强度数据;在上述光强度数据上个别检测表示发光粒子的光的信号;抽出所检测出的上述表示发光粒子的光的信号中的与同一发光粒子对应的多个信号;其特征在于,该方法还包括:根据所抽出的上述信号的产生时间的间隔中的与上述光检测区域的移动周期偏移的偏移时间,来计算与所抽出的上述信号对应的发光粒子的扩散特性值。
地址 日本东京都