发明名称 用于IR检测系统的杜瓦瓶组件
摘要 本发明提供了一种杜瓦瓶组件,用于在光学IR检测系统中限定一个光收集区域。所述杜瓦瓶组件含有一个温屏蔽体单元,所述温屏蔽体单元被构造成一个封装体,用于光学封装光收集区域并具有一个光学窗,入射光经穿所述光学窗进入所述杜瓦瓶。所述温屏蔽体限定一个反射内表面,该反射内表面被构造成,使得穿过所述光学窗传播到所述内表面上的入射光的光部分被所述内表面反射向所述光收集区域外部的区域。
申请公布号 CN103168217B 申请公布日期 2015.01.14
申请号 CN201180049725.4 申请日期 2011.10.11
申请人 半导体器件-埃尔法特系统-拉法合伙公司 发明人 迈克尔·辛格
分类号 G01J5/04(2006.01)I;G01J5/06(2006.01)I;G01J5/08(2006.01)I;G02B17/06(2006.01)I 主分类号 G01J5/04(2006.01)I
代理机构 北京同立钧成知识产权代理有限公司 11205 代理人 臧建明
主权项 用在包括IR检测器单元类别的光学IR检测系统中的杜瓦瓶组件,其中所述杜瓦瓶组件包含: 一个基底,其含有辐射吸收区域并被安置成用于限定所述杜瓦瓶组件的光收集区域;和 一个温屏蔽体单元,其具有一个使入射光穿过其而进入所述杜瓦瓶的光学窗; 所述杜瓦瓶组件的特征在于,其含有一个热屏蔽体,所述热屏蔽体被构造成由所述温屏蔽体单元形成的单个屏蔽体结构,所述温屏蔽体单元被构造成一个封装体,用于光学封装所述基底并具有一个反射内表面,其中:所述反射内表面和所述温屏蔽体单元的外表面在所述IR检测器所敏感的波长中具有不超过几个百分比的低发射率,由此降低了由所述各表面吸收的辐射的量,并降低了由所述内表面在给定的温度条件下发出的辐射的量;并且所述反射内表面的形状被构造成,将穿过所述光学窗传播并撞击其上的光部分朝着所述光收集区域外的区域反射。 
地址 以色列海法市