发明名称 |
芯片测试装置 |
摘要 |
一种芯片测试装置包括一基座、一电路板、一夹持件、若干导电件及至少一定位板,基座包括一支撑件及枢转连接于支撑件的若干盖板,电路板设置在支撑件上且焊盘区朝上,夹持件设置在电路板上,夹持件的顶部设有一定位槽,定位槽内贯穿开设若干正对电路板的焊盘区的卡固孔,导电件分别收容于卡固孔内,定位板收容于定位槽内且开设有若干收容芯片的收容口,每一导电件的两端分别用于电连接芯片的引脚及电路板的焊盘区,每一盖板设有若干正对相应的收容口用于朝向电路板抵顶芯片的压块,电路板夹持于夹持件和支撑件之间,将定位板夹持于盖板与夹持件之间,导电件电性连接芯片的引脚与电路板对应的焊盘区,方便测试芯片。 |
申请公布号 |
CN204101684U |
申请公布日期 |
2015.01.14 |
申请号 |
CN201420498136.5 |
申请日期 |
2014.08.29 |
申请人 |
深圳市嘉合劲威电子科技有限公司 |
发明人 |
陈任佳;田景均 |
分类号 |
G01R31/26(2014.01)I;G01R1/04(2006.01)I;G01R1/067(2006.01)I |
主分类号 |
G01R31/26(2014.01)I |
代理机构 |
深圳市赛恩倍吉知识产权代理有限公司 44334 |
代理人 |
谢志为 |
主权项 |
一种芯片测试装置,用于测试芯片,其特征在于:该芯片测试装置包括一基座、一电路板、一夹持件、若干导电件及至少一定位板,该基座包括一支撑件及枢转连接于该支撑件的若干盖板,该电路板设置在该支撑件上且焊盘区朝上,该夹持件设置在该电路板上,该夹持件的顶部设有至少一定位槽,该定位槽内贯穿开设若干分别正对电路板的焊盘区的卡固孔,这些导电件分别收容于这些卡固孔内,该定位板收容于定位槽内且开设有若干收容芯片的收容口,每一导电件的两端分别用于电连接芯片的引脚及电路板对应的焊盘区,这些盖板能扣合于该夹持件,每一盖板设有若干正对相应的收容口用于朝向电路板抵顶芯片的压块。 |
地址 |
518108 广东省深圳市龙岗区坂田街道马安堂社区龙景工业区F栋5楼502 |