发明名称 | 面板驱动电路中嵌入式存储器的分析装置与方法 | ||
摘要 | 本发明提供了一种面板驱动电路中嵌入式存储器的分析装置和方法,适用于测试面板驱动电路的嵌入式存储器。该分析装置包括测试单元、撷取单元、转换单元、分析单元。测试单元用于通过面板驱动电路上的信号管脚来测试嵌入式存储器。撷取单元用于撷取所述故障记录。转换单元用于将故障记录转换成位图数据。分析单元用于根据所述位图数据进行故障模式分析。基此,本发明分析装置能够快速且经济地完成面板驱动电路之嵌入式存储器的分析。 | ||
申请公布号 | CN102446560B | 申请公布日期 | 2015.01.14 |
申请号 | CN201110403633.3 | 申请日期 | 2011.12.07 |
申请人 | 旭曜科技股份有限公司 | 发明人 | 陈志仁 |
分类号 | G11C29/56(2006.01)I | 主分类号 | G11C29/56(2006.01)I |
代理机构 | 北京德琦知识产权代理有限公司 11018 | 代理人 | 牛峥;王丽琴 |
主权项 | 一种面板驱动电路中嵌入式存储器的分析装置,用于测试位于晶圆上的面板驱动电路中的嵌入式存储器,其特征在于,该分析装置包括:一测试单元,用于在所述嵌入式存储器存在故障时通过所述面板驱动电路上的信号管脚来输出对应的故障记录;一撷取单元,用于撷取所述故障记录;一转换单元,用于根据所述故障记录以及一存储器物理地址转换公式,计算获得包括发生所述故障的物理地址的一位图数据;以及一分析单元,用于根据所述位图数据进行故障分析;其中,所述存储器物理地址转换公式包括:Bank=INT(pixel(x)/16)Bitline=IO×16+pixel(y)%2Wordline=pixel(y)式中,Bank表示对应所述故障的记忆库,Bitline表示对应所述故障的位线,Wordline表示对应所述故障的字符线,pixel(x)为对应所述故障的像素位置在x方向上的坐标,pixel(y)为对应所述故障的像素位置在y方向上的坐标,IO为所述面板驱动电路上对应所述故障的信号管脚,INT()为取整数的函数,%为取余数的操作符。 | ||
地址 | 中国台湾新竹科学工业园区笃行一路6号4楼 |