发明名称 半导体温差片特性实验仪
摘要 半导体温差片特性实验仪,包括多条信号线,第一接线柱,单片机,显示屏,半导体温差片,第二接线柱和热水杯,第一接线柱,电流传感器,半导体温差片,第二接线柱通过导线顺次电连接,半导体温差片的上面为高温面并固定设置有第一温度传感器、下面为低温面并固定设置有第二温度传感器,热水杯的底面设置有与第一温度传感器适配的凹槽,电流传感器,第一温度传感器,第二温度传感器通过信号线分别与单片机不同输入端电连接,单片机的输出端通过信号线与显示屏电连接,热水杯由不锈钢制成。本实验仪可做给半导体温差片通电和半导体温差片向外发电时,电流与半导体温差片上下两面的温差值之间的关系特性研究。本实用新型结构简单,效果明显,易于生产。
申请公布号 CN204101686U 申请公布日期 2015.01.14
申请号 CN201420527115.1 申请日期 2014.09.12
申请人 江南大学 发明人 吴雨佳;张秀梅;程鸿雁;王廷志
分类号 G01R31/26(2014.01)I 主分类号 G01R31/26(2014.01)I
代理机构 代理人
主权项 半导体温差片特性实验仪,包括多条信号线,第一接线柱,单片机,显示屏,半导体温差片,第二接线柱和热水杯,其特征在于:所述第一接线柱,电流传感器,半导体温差片,第二接线柱通过导线顺次电连接,所述半导体温差片的上面为高温面并固定设置有第一温度传感器、下面为低温面并固定设置有第二温度传感器,所述热水杯的底面设置有与第一温度传感器适配的凹槽,所述电流传感器,第一温度传感器,第二温度传感器通过信号线分别与单片机不同输入端电连接,所述单片机的输出端通过信号线与显示屏电连接。 
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