测试针头和半导体测试治具

摘要

一种测试针头和半导体测试治具，其中所述测试针头，包括：绝缘体，绝缘体中具有贯通绝缘体两个端部的空腔；位于绝缘体的空腔中的第一测试针，第一测试针包括第一本体、位于第一本体一端的第一测试端以及位于第一本体另一端的第一连接端；位于空腔中的弹性元件，所述弹性元件与第一测试针连接，适于驱动所述第一测试针沿空腔上下移动；位于绝缘体侧壁表面环绕所述第一测试针的第二测试针，第二测试针与第一测试针同轴，第二测试针包括第二本体、位于第二本体一端的第二测试端以及位于第二本体另一端的第二连接端，第二测试端具有下凹的第一弧面。本发明的测试针头的第一测试针可以上下移动，满足不同的测试需求，并适于球形被测试端子的测试。

主权项

一种测试针头，其特征在于，包括：绝缘体，所述绝缘体中具有贯通绝缘体两个端部的空腔；位于绝缘体的空腔中的第一测试针，所述第一测试针包括第一本体、位于第一本体一端的第一测试端以及位于第一本体另一端的第一连接端；位于空腔中的弹性元件，所述弹性元件与第一测试针连接，适于驱动所述第一测试针沿空腔上下移动；位于绝缘体侧壁表面环绕所述第一测试针的第二测试针，第二测试针与第一测试针同轴，第二测试针包括第二本体、位于第二本体一端的第二测试端以及位于第二本体另一端的第二连接端，第二测试端具有下凹的第一弧面。