发明名称 一种用于飞行时间质谱的磁控溅射团簇离子源
摘要 一种用于飞行时间质谱的磁控溅射团簇离子源,该离子源包括腔体、氩进气管、氦进气管、金属靶材和喷口。金属靶材位于靠近飞行时间质谱的一侧,氩进气管和氦进气管在金属靶材的两端,腔体与飞行时间质谱相邻的一侧有1个凸向腔体的喷口。本发明将磁控溅射离子源与飞行时间质谱相结合,测试样品时,氩气经进气管进入腔体后被电离,电离的氩气离子快速的轰击金属靶材表面,产生金属等离子体,金属等离子体由氦气载带,由喷口喷出形成团簇离子,进入高分辨飞行时间质谱,最后探测器探测得到尺寸范围很宽的离子团簇飞行时间质谱图。本发明可适用于各种金属大尺寸团簇离子的成分分析。
申请公布号 CN104282526A 申请公布日期 2015.01.14
申请号 CN201310291516.1 申请日期 2013.07.11
申请人 中国科学院大连化学物理研究所 发明人 唐紫超;秦正波;张世宇
分类号 H01J49/10(2006.01)I;H01J49/14(2006.01)I 主分类号 H01J49/10(2006.01)I
代理机构 沈阳晨创科技专利代理有限责任公司 21001 代理人 张晨
主权项 一种用于飞行时间质谱的磁控溅射团簇离子源,其特征在于:该离子源包括腔体(1)、氩进气管(2)、氦进气管(3)、金属靶材(4)、喷口(5);金属靶材(4)位于靠近飞行时间质谱的一侧,氩进气管(2)和氦进气管(3)在金属靶材(4)的两端,腔体(1)与飞行时间质谱相邻的一侧有1个凸向腔体的喷口(5)。
地址 116023 辽宁省大连市中山路457号