发明名称 |
一种EPON系统OLT自动清除无效ONU的方法和OLT |
摘要 |
本发明公开了一种EPON系统OLT自动清除无效ONU的方法和OLT,该方法包括以下步骤:对EPON系统的局端PON端口下所挂的ONU预先设定自动解注册阈值;OLT判断ONU的离线时间是否达到自动解注册阈值,如果达到,OLT对该已注册授权的ONU执行ONU解注册操作。本发明EPON系统OLT自动清除无效ONU的方法和OLT具有自动扫描检测机制,对于在规定的一段时间内没有使用的ONU进行自动解注册操作,释放被占用ONUID,从而让新的ONU可以注册上线使用;不需要人工定期检查清理无效终端ONU,可以节约人力成本,同时提高PON端口利用率。 |
申请公布号 |
CN104284259A |
申请公布日期 |
2015.01.14 |
申请号 |
CN201410631859.2 |
申请日期 |
2014.11.11 |
申请人 |
武汉长光科技有限公司 |
发明人 |
李慧;何金亮;王瑾;郑直 |
分类号 |
H04Q11/00(2006.01)I;H04L12/24(2006.01)I |
主分类号 |
H04Q11/00(2006.01)I |
代理机构 |
湖北武汉永嘉专利代理有限公司 42102 |
代理人 |
胡建平 |
主权项 |
一种EPON系统OLT自动清除无效ONU的方法,其特征在于,包括以下步骤:对EPON系统的局端PON端口下所挂的ONU预先设定自动解注册阈值;OLT判断ONU的离线时间是否达到自动解注册阈值,如果达到,OLT对该已注册授权的ONU执行ONU解注册操作。 |
地址 |
430073 湖北省武汉市洪山区邮科院路88号烽火科技大厦二层 |