发明名称 导电玻璃检测系统
摘要 本发明属于导电玻璃检测设备技术领域,具体地说是一种导电玻璃检测系统,包含有一机台、一动力单元、一移动平台、一第一真空吸附式托盘组、一第二真空吸附式托盘组、一待测卡匣、一良品卡匣、一不良品卡匣、一校位装置、一检测平台、一框架、至少一影像对位装置及一电测单元;由所述第一真空吸附式托盘组对待测卡匣内的导电玻璃进行取料及将导电玻璃送入于检测平台内的送料,另由所述第二真空吸附式托盘组对检测平台内的导电玻璃进行取料,并将所述导电玻璃送入所述良品卡匣或不良品卡匣内的送料。本发明能达到分工及减少等待时间的功效,进而大幅地提升检测效率。
申请公布号 CN104280650A 申请公布日期 2015.01.14
申请号 CN201310285005.9 申请日期 2013.07.08
申请人 全研科技有限公司 发明人 邱毓英;宋柏玮;李浩玮
分类号 G01R31/01(2006.01)I 主分类号 G01R31/01(2006.01)I
代理机构 沈阳科苑专利商标代理有限公司 21002 代理人 何丽英
主权项 一种导电玻璃检测系统,其特征在于,包括:一机台;一动力单元,设置于所述机台上,用于输出沿一Z轴进行上、下直线往复运动的动力及旋转的动力;一移动平台,位于所述机台上,并于所述动力单元连接,通过所述动力单元所输出的动力所驱使,而沿Z轴进行上、下的直线往复运动及旋转;一第一真空吸附式托盘组,设置于所述移动平台上,并可于所述移动平台上依据设定的路径进行上升、吸附、下降及释放的路径位移;一第二真空吸附式托盘组,设置于所述移动平台上,并可于所述移动平台上依据设定的路径进行上升、吸附、下降及释放的路径位移;一待测卡匣,设置于所述机台上,供多个待测的导电玻璃加以容置;一良品卡匣,设置于所述机台上;一不良品卡匣,设置于所述机台上;一校位装置,设置于所述机台上,可进行精密而细微的X轴、Y轴、Z轴及旋转的位移调整;一检测平台,设置于所述校位装置上,并通过所述校位装置所连动,以供一导电玻璃加以放置,且检测平台上具有一供导电玻璃放置的检测区及两个垂直相邻于所述检测区边缘的基准边,所述检测区上具有多个以预定间距排列的真空吸附孔,以对所述检测区上的导电玻璃产生真空吸力;一框座,设置于所述机台上;多个影像对位装置,分别设置于所述第一真空吸附式托盘组、第二真空吸附式托盘组及所述框座上,并可对所述检测平台上的导电玻璃进行取像或者对所述待测卡匣、所述良品卡匣、所述不良品卡匣的导电的导电玻璃检测位置进行取像;一电测单元,设置于所述框座上,用于对位于所述检测平台上的导电玻璃进行接触测试。
地址 中国台湾彰化县田尾乡新兴村新兴路371号