发明名称 类比至数位转换器之测试
摘要 揭示方法和设备,包括电脑程式产品,以测试类比至数位转换器。通常,接收资料,该资料的特征为:一第一数位码,来自一类比信号产生器的在一第一类比电压中之待测装置,及一第二数位码,是一数位码临界;以及藉由一处理器来执行一计算而为该装置的另一测试产生一步进尺寸。该计算可包括以该第一和第二数位码的一差乘上该装置的一最低有效位元尺寸,以产生一乘积;及将该乘积除以该类比信号产生器的一最低有效位元尺寸。该第一数位码系可从该测试中的多个子测试之结果来计算,其中该等子测试的每一个包括在该第一类比电压之该装置的多个类比至数位转换。
申请公布号 TWI469531 申请公布日期 2015.01.11
申请号 TW097140665 申请日期 2008.10.23
申请人 伊格测试系统股份有限公司 美国 发明人 安德森 大卫;威门 杰克
分类号 H03M1/10;H03M1/12 主分类号 H03M1/10
代理机构 代理人 林志刚 台北市中山区南京东路2段125号7楼
主权项 一种测试类比至数位转换器的方法,包含:接收资料,该资料的特征为:一第一数位码,从一类比信号产生器的一第一类比电压之一待第一测试的装置所产生;及一第二数位码,是一数位码临界;及藉由执行一计算而为该装置的一第二测试产生一第一步进尺寸,包含:以该第一数位码和该第二数位码的一差,乘上待该第一测试的该装置之一最低有效位元尺寸,以产生一乘积;及将该乘积除以该类比信号产生器的一最低有效位元尺寸。
地址 美国