发明名称 |
试料分析晶片、使用它之试料分析装置及试料分析方法以及试料分析晶片之制造方法 |
摘要 |
本发明之课题在于提供一种低成本的试料分析晶片,其系对晶片上所形成的井进行送液,在进行反应的试料分析晶片中,送液方法既简单且各井的液量没有偏异。;解决问题之手段系作成一种试料分析晶片,其特征在于:具有复数个井102、与各井联系的流路之试料分析晶片,该流路系具有送液至各井中之主要流路103,主要流路系较该井设置于更接近旋转中心侧,在相邻的井之间,于旋转中心方向具有一个山的方式来予以形成。 |
申请公布号 |
TWI468685 |
申请公布日期 |
2015.01.11 |
申请号 |
TW099109786 |
申请日期 |
2010.03.31 |
申请人 |
凸版印刷股份有限公司 日本 |
发明人 |
小泽知之;西嶋奈绪;殷明 |
分类号 |
G01N33/48 |
主分类号 |
G01N33/48 |
代理机构 |
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代理人 |
何金涂 台北市大安区敦化南路2段77号8楼;丁国隆 台北市大安区敦化南路2段77号8楼 |
主权项 |
一种试料分析晶片,其系在基材中具有复数个井、与各井联系的流路、与将溶液注入流路之注入口,藉由使该基材旋转所产生的离心力而将溶液配液至井中的试料分析晶片;其特征在于:该流路系具有送液至各该井中之主要流路,该主要流路系较该井设置于更接近旋转中心侧,在相邻的井之间,以相对于旋转中心方向具有一个山的方式来予以形成;在该主要流路之山与山之间的谷部,该井与主要流路相联络;及该基材为圆盘状,且该井系与该基材成同心圆形所配置。 |
地址 |
日本 |