发明名称 |
非接触式供电系统之金属异物检测方法、非接触式供电装置、受电装置及非接触式供电系统 |
摘要 |
在非接触式供电装置(1)之各供电区域(AR1)系设置有一次线圈(L1)与一次侧认证用线圈(A1)。一次线圈(L1)与一次侧认证用线圈(A1)之位置系互为不同。在电子机器(E)之受电区域(AR2)系设置有二次线圈(L2)与二次侧认证用线圈(A2)。二次线圈(L2)与二次侧认证用线圈(A2)之位置系互为不同。基于从一次线圈(L1)振荡出之送电用振荡信号来检测在一次线圈(L1)与二次线圈(L2)之间是否有金属异物,且基于从一次侧认证用线圈(A1)振荡出之认证用振荡信号来检测在一次侧认证用线圈(A1)与二次侧认证用线圈(A2)之间是否有金属异物。 |
申请公布号 |
TWI469468 |
申请公布日期 |
2015.01.11 |
申请号 |
TW101138657 |
申请日期 |
2012.10.19 |
申请人 |
松下电器产业股份有限公司 日本 |
发明人 |
后藤弘通 |
分类号 |
H02J17/00;G01V3/10 |
主分类号 |
H02J17/00 |
代理机构 |
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代理人 |
庄志强 台北市大安区敦化南路2段71号18楼;黄富源 台北市大安区敦化南路2段71号18楼 |
主权项 |
一种非接触式供电系统之金属异物检测方法,其系用以检测包含非接触式供电装置与受电装置之非接触式供电系统中的金属异物;前述非接触式供电装置系具备一个以上之供电区域、对前述供电区域赋予对应关系之一次线圈及一次侧认证用线圈;前述受电装置系设置于具备有一个以上之受电区域的电子机器,且具备对前述受电区域赋予对应关系之二次线圈及二次侧认证用线圈;前述非接触式供电系统之金属异物检测方法系具备以下之步骤:前述一次侧认证用线圈送出认证用振荡信号;前述二次侧认证用线圈响应前述认证用振荡信号而将认证信号进行振荡;在前述一次侧认证用线圈接收并认证前述认证信号之后,藉由前述一次线圈所振荡出之送电用振荡信号使前述二次线圈产生二次电力;基于来自前述一次线圈之前述送电用振荡信号,来检测在前述一次线圈与前述二次线圈之间是否有金属异物;以及基于来自前述一次侧认证用线圈之前述认证用振荡信号,来检测在前述一次侧认证用线圈与二次侧认证用线圈之间是否有金属异物;前述一次线圈与一次侧认证用线圈系在前述供电区域,配置于互为不同之位置;前述二次线圈与二次侧认证用线圈系在前述受电区域,配置于互为不同之位置。 |
地址 |
日本 |