发明名称 铜互连结构及形成铜互连之方法
摘要 本发明系提供一种铜互连结构,包含绝缘层;包含铜之互连体,系于该绝缘层所提供之开口中;以及形成于该绝缘层及该互连体之间之扩散阻障层。该扩散阻障层包括含有锰之氧化层,其具有小于2之氧与锰之组成比例(y/x)。
申请公布号 TWI469300 申请公布日期 2015.01.11
申请号 TW098143425 申请日期 2009.12.17
申请人 合同会社先端配线材料研究所 日本 发明人 小池淳一;柴富昭洋
分类号 H01L23/52;H01L21/768;H01L21/3205 主分类号 H01L23/52
代理机构 代理人 林志刚 台北市中山区南京东路2段125号7楼
主权项 一种形成铜互连结构之方法,该方法包括以下步骤:于主体上形成绝缘层;于该绝缘层上形成包含锰之铜层;将该包含锰之铜层退火以形成扩散阻障层,其中,该退火步骤于下述条件中进行:不超过0.1帕之压力,不超过600℃之温度,及达5至80分钟之时间;以及于该扩散阻障层上沈积铜以形成互连体。
地址 日本