发明名称 |
铜互连结构及形成铜互连之方法 |
摘要 |
本发明系提供一种铜互连结构,包含绝缘层;包含铜之互连体,系于该绝缘层所提供之开口中;以及形成于该绝缘层及该互连体之间之扩散阻障层。该扩散阻障层包括含有锰之氧化层,其具有小于2之氧与锰之组成比例(y/x)。 |
申请公布号 |
TWI469300 |
申请公布日期 |
2015.01.11 |
申请号 |
TW098143425 |
申请日期 |
2009.12.17 |
申请人 |
合同会社先端配线材料研究所 日本 |
发明人 |
小池淳一;柴富昭洋 |
分类号 |
H01L23/52;H01L21/768;H01L21/3205 |
主分类号 |
H01L23/52 |
代理机构 |
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代理人 |
林志刚 台北市中山区南京东路2段125号7楼 |
主权项 |
一种形成铜互连结构之方法,该方法包括以下步骤:于主体上形成绝缘层;于该绝缘层上形成包含锰之铜层;将该包含锰之铜层退火以形成扩散阻障层,其中,该退火步骤于下述条件中进行:不超过0.1帕之压力,不超过600℃之温度,及达5至80分钟之时间;以及于该扩散阻障层上沈积铜以形成互连体。 |
地址 |
日本 |