发明名称 半導体デバイスを製造するための方法
摘要 本発明は、第1の層(5)と、異なる電気的特性及び露出された表面(13)を有する第2の層(7)との間に界面領域(9)を備える半導体デバイス用の基板であり、少なくとも第2の層(7)が欠陥及び/又は転位を含む、半導体デバイス用の基板を製造するための方法であって、a)欠陥及び/又は転位の1つ以上の位置で材料を除去し、それによって、界面領域(9)と交わる穴(13a〜13d)を形成するステップと、b)穴(3a〜13d)を不動態化するステップと、を含む、方法に関する。発明はまた、対応する半導体デバイス構造にも関する。【選択図】図1d
申请公布号 JP2015501084(A) 申请公布日期 2015.01.08
申请号 JP20140546324 申请日期 2011.12.15
申请人 ソイテックSoitec 发明人
分类号 H01L21/20;H01L31/0392 主分类号 H01L21/20
代理机构 代理人
主权项
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