| 摘要 |
<p>Eine Kontrollvorrichtung (2) zum Überwachen einer Funktion eines Halbleiterbauelements (18a, b) während dessen Betriebs umfasst eine Eingangsschnittstelle (4), die ausgebildet ist, um ein Sensorsignal (12) zu empfangen, das zu einer berührungslos bestimmten Temperaturverteilung auf einer Oberfläche des Halbleiterbauelements (18a, b) korrespondiert und eine Auswerteeinrichtung (6), die ausgebildet ist, um basierend auf dem Sensorsignal (12) zu bestimmen, ob die Temperaturverteilung ein vorbestimmtes Entscheidungskriterium erfüllt, welches zu einem Betrieb des Halbleiterbauelements (18a, b) außerhalb eines normalen Betriebszustandes korrespondiert. Eine Ausgangsschnittstelle (8) ist ausgebildet, um ein Notfallsignal (10) auszugeben, wenn das Entscheidungskriterium erfüllt ist, wobei das Notfallsignal (10) das Durchführen einer Notfallmaßnahme bewirkt.</p> |
