发明名称 電子素子用絶縁材
摘要 <p>本発明は、絶縁材の高温硬化工程による電子素子の損傷を抑制することができつつも、電子素子の信頼性向上に寄与し得る電子素子用絶縁材に関するものである。かかる電子素子用絶縁材は、所定の繰り返し単位を含む可溶性ポリイミド樹脂と、沸点が130〜180℃の低沸点溶媒を含む残留溶媒とを含み、250℃以下の温度で硬化した後に、脱ガスの発生量が可溶性ポリイミド樹脂の総重量に対して4ppm以下であり、水またはアルコールに由来する脱ガスの発生量が0.1ppm未満であるものである。【選択図】なし</p>
申请公布号 JP2015501065(A) 申请公布日期 2015.01.08
申请号 JP20140540977 申请日期 2013.01.11
申请人 发明人
分类号 H01B3/30;C08G73/10;H01L23/14 主分类号 H01B3/30
代理机构 代理人
主权项
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