| 主权项 |
1.一种用以检测光学元件品质之检测方法,包含下 列步骤: 提供一点状光源; 输出该点状光源,并使其穿经一光学元件,以于一 光学影像处理装置处形成一第一光学影像; 于该第一光学影像中具有一阴影区块时,调整该光 学元件之位置状态,以使该点状光源于穿经遂行调 整动作之该光学元件后,而于该光学影像处理装置 处形成一第二光学影像;以及 比较该第一与第二光学影像,以判断该阴影区块是 否因应该光学元件之调整动作而同步移动,俾决定 该光学元件之品质。 2.如申请专利范围第1项所述之用以检测光学元件 品质之检测方法,其中该点状光源系可为一雷射光 源。 3.如申请专利范围第1项所述之用以检测光学元件 品质之检测方法,其中该光学元件系可包含一供该 点状光源穿经其中之光学镜头组,与一用以握持该 光学镜头组之镜头组夹具。 4.如申请专利范围第3项所述之用以检测光学元件 品质之检测方法,其中该镜头组夹具系具有一位置 调整元件,以调整该光学镜头组可处于不同之位置 状态。 5.如申请专利范围第4项所述之用以检测光学元件 品质之检测方法,其中系可为以旋转方式,抑或以 倾斜方式改变该光学镜头组之位置状态。 6.如申请专利范围第1项所述之用以检测光学元件 品质之检测方法,其中该阴影区块系为由一留存于 该光学元件中之阻碍物阻挡该点状光源之光程路 径而形成。 7.如申请专利范围第1项所述之用以检测光学元件 品质之检测方法,其中该光学影像处理装置系可为 一具有二维座标标记之屏幕,以供该第一与第二光 学影像投射于其上。 8.如申请专利范围第7项所述之用以检测光学元件 品质之检测方法,其中该阴影区块之二维座标値于 因应该光学元件之位置调整动作而同步改变时,即 表示该光学元件之品质不佳。 9.如申请专利范围第1项所述之用以检测光学元件 品质之检测方法,其中该光学影像处理装置系可为 一设有光学感测元件之电脑处理装置,以输入该第 一与第二光学影像。 10.如申请专利范围第9项所述之用以检测光学元件 品质之检测方法,其中该电脑处理装置判断该阴影 区块之感测影像座标値于因应该光学元件之位置 调整动作而同步改变时,即表示该光学元件之品质 不佳。 11.一种用以检测光学元件品质之检测方法,包含下 列步骤: 提供一点状光源; 输出该点状光源,并使其穿经可处于不同位置状态 之一光学元件,以于一光学影像处理装置中留存不 同的光学影像;以及 判断该些不同光学影像中是否皆具有形式相同的 阴影区块,俾决定该光学元件之品质。 12.如申请专利范围第11项所述之用以检测光学元 件品质之检测方法,其中该点状光源系可为一雷射 光源。 13.如申请专利范围第11项所述之用以检测光学元 件品质之检测方法,其中该光学元件系可包含一供 该点状光源穿经其中之光学镜头组,与一用以握持 该光学镜头组之镜头组夹具。 14.如申请专利范围第11项所述之用以检测光学元 件品质之检测方法,其中该光学影像处理装置系可 为一具有二维座标标记之屏幕,以供该第一与第二 光学影像投射于其上。 15.如申请专利范围第11项所述之用以检测光学元 件品质之检测方法,其中该光学影像处理装置系可 为一设有光学感测元件之电脑处理装置,以输入该 第一与第二光学影像。 16.一种用以检测光学元件品质之检测装置,包含: 一光源产生装置,其系用以产生一点状光源; 一握持装置,设于该光源产生装置之后方,其系用 以握持一可供该点状光源穿经其中之光学镜头组, 且可调整该光学镜头组之位置状态;以及 一光学影像处理装置,设于该光学镜头组之后方, 以输入该点状光源于穿经处于不同位置状态之光 学镜头组后而所产生之不同光学影像,且可依据该 些不同光学影像中之阴影区块是否因应该光学镜 头组之调整动作而同步移动,俾决定该光学元件之 品质。 17.如申请专利范围第16项所述之用以检测光学元 件品质之检测装置,其中该点状光源系可为一雷射 光源。 18.如申请专利范围第16项所述之用以检测光学元 件品质之检测装置,其中该握持装置系可为一用以 握持该光学镜头组之镜头组夹具。 19.如申请专利范围第18项所述之用以检测光学元 件品质之检测装置,其中该镜头组夹具系具有一位 置调整元件,以调整该光学镜头组可处于不同之位 置状态。 20.如申请专利范围第19项所述之用以检测光学元 件品质之检测装置,其中系可为以旋转方式,抑或 以倾斜方式改变该光学镜头组之位置状态。 21.如申请专利范围第16项所述之用以检测光学元 件品质之检测装置,其中该阴影区块系为由一留存 于该光学镜头组中之阻碍物阻挡该点状光源之光 程路径而形成。 22.如申请专利范围第16项所述之用以检测光学元 件品质之检测装置,其中该光学影像处理装置系可 为一具有二维座标标记之屏幕,以供该第一与第二 光学影像投射于其上。 23.如申请专利范围第22项所述之用以检测光学元 件品质之检测装置,其中该阴影区块之二维座标値 于因应该光学元件之位置调整动作而同步改变时, 即表示该光学元件之品质不佳。 24.如申请专利范围第16项所述之用以检测光学元 件品质之检测装置,其中该光学影像处理装置系可 为一设有光学感测元件之电脑处理装置,以输入该 第一与第二光学影像。 25.如申请专利范围第24项所述之用以检测光学元 件品质之检测装置,其中该电脑处理装置判断该阴 影区块之感测影像座标値于因应该光学元件之位 置调整动作而同步改变时,即表示该光学元件之品 质不佳。 图式简单说明: 第一图:其系为本案之一较佳实施流程之步骤示例 图。 第二图(a)、(b):其系皆为本案之一第一较佳实施装 置之结构与运作示例图。 第三图(a)、(b):其系皆为本案之一第二较佳实施装 置之结构与运作示例图。 |
