发明名称 全局曝光方式的图像传感器像素结构
摘要 本实用新型公开了一种全局曝光方式的图像传感器像素结构,包括置于半导体基体中的光电二极管区,电荷传输晶体管,复位晶体管,源跟随晶体管,选择晶体管,还包括设于光电二极管区外围的多晶硅环和薄氧化层环、晶体管电容器件、N型离子区。多晶硅环为高电平时在光电二极管区感应出电场,为低电平时不感应出电场,光电二极管区的积分时间为多晶硅环高电平时间;晶体管电容器件位于N型离子区中,晶体管电容用来存储光电二极管区收集到的光电电荷,适用于全局曝光方式的图像传感器。
申请公布号 CN204088322U 申请公布日期 2015.01.07
申请号 CN201420603373.3 申请日期 2014.10.17
申请人 北京思比科微电子技术股份有限公司 发明人 郭同辉;旷章曲
分类号 H01L27/146(2006.01)I;H01L21/77(2006.01)I 主分类号 H01L27/146(2006.01)I
代理机构 北京凯特来知识产权代理有限公司 11260 代理人 郑立明;赵镇勇
主权项 一种全局曝光方式的图像传感器像素结构,包括置于半导体基体中的光电二极管区,电荷传输晶体管,复位晶体管,源跟随晶体管,选择晶体管,其特征在于,还包括设于光电二极管区外围的多晶硅环和薄氧化层环、晶体管电容器件、N型离子区;所述多晶硅环位于光电二极管区侧壁,所述多晶硅环与光电二极管区之间设置有薄氧化层环,多晶硅环用来控制光电二极管区有无电场;所述晶体管电容器件位于所述N型离子区中,用来存储光电二极管区收集到的光电电荷。
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