发明名称 一种TOD法性能测试系统及测试方法
摘要 一种TOD法性能测试系统及测试方法,包括主控计算机、图像位宽转换器和显示器;主控计算机包括图像生成模块、TOD法性能测试模块;图像生成模块,用于完成测试图像的参数设置、图像的生成、图像的预览;TOD法性能测试模块,用于完成源于图像生成模块的测试图像的播放,记录判断测试图像的靶标方向的结果,并将测试图像传递给图像位宽转换器;图像位宽转换器,用于实现测试图像位宽的转换。本发明采用图像位宽转换器将测试图像的位宽从8bit提高到10bit或12bit,最小对比度从1/256降低到1/1024,降低了成本,简单方便采用TOD法测试图像的色深,降低测试图像最小对比度,提高TOD法测试准确性和测试精度。
申请公布号 CN104270629A 申请公布日期 2015.01.07
申请号 CN201410409012.X 申请日期 2014.08.19
申请人 西安电子科技大学 发明人 何国经;张冬阳;白鑫鹏;刘鑫;谢世雄;栗旭光
分类号 H04N17/00(2006.01)I 主分类号 H04N17/00(2006.01)I
代理机构 西安通大专利代理有限责任公司 61200 代理人 徐文权
主权项 一种TOD法性能测试系统,其特征在于,包括主控计算机、图像位宽转换器和显示器;其中,主控计算机包括图像生成模块、TOD法性能测试模块;显示器为10bit显示器或12bit显示器;所述的图像生成模块,用于完成测试图像的参数设置、图像的生成、图像的预览、图像的保存;所述的TOD法性能测试模块,用于完成源于图像生成模块的测试图像的播放,记录判断测试图像的靶标方向的结果,并将测试图像传递给图像位宽转换器;所述的图像位宽转换器,用于实现测试图像位宽的转换,输出10bit或12bit图像。
地址 710071 陕西省西安市太白南路2号