发明名称 改善选择性氧化工艺中氧化物生长速率的方法
摘要 公开改善选择性氧化工艺中氧化物生长速率的方法。作为一个实施方式,提供一种选择性氧化合成衬底的材料的方法,包括:将该合成衬底设置在处理室中;将气体混合物引入到该处理室,该气体混合物包括含氧气体和体积百分比大于65%的含氢气体;将该处理室加压到250托至800托之间的压力;以及用预定的时间将该处理室加热至预定的温度,以使含氢气体和含氧气体在该处理室内反应,并选择性氧化该合成衬底。通过本发明的方法,能够利用原位产生的蒸汽有效地仅氧化半导体器件叠层中的含硅层,而不会使阻挡或导电层的性能退化。
申请公布号 CN104269343A 申请公布日期 2015.01.07
申请号 CN201410386390.0 申请日期 2008.09.24
申请人 应用材料公司 发明人 横田好隆;诺曼.I.塔姆;巴拉苏布若门尼.拉马钱德伦;马丁.约翰.里普利
分类号 H01L21/02(2006.01)I;H01L21/316(2006.01)I;H01L21/28(2006.01)I;H01L21/32(2006.01)I 主分类号 H01L21/02(2006.01)I
代理机构 北京律诚同业知识产权代理有限公司 11006 代理人 徐金国;赵静
主权项 一种处理衬底的方法,包括:将具有至少含硅层和金属层的衬底放置在处理室中;将富氢气体混合物引入到所述处理室,所述富氢气体混合物包括至少65%的氢气;将所述处理室加压到大于450托的压力;以及使所述富氢气体混合物在所述处理室内反应以产生蒸汽,并选择性氧化所述含硅层。
地址 美国加利福尼亚州