发明名称 |
一种芯片输入输出管脚测试装置 |
摘要 |
本实用新型揭示了一种芯片输入输出管脚测试装置,包括:一微控制芯片,多组分别并联在电源电压与接地之间的检测单元,每组检测单元包括串联的第一电阻和第二电阻;第一检头,连接电源电压;第二探头,分别连接所述第一电阻和第二电阻之间的节点,并连接到所述微控制芯片的模数转换接口;每组检测单元的所述第一电阻分别串联一第一场效应晶体管,所述第二电阻分别串联一第二场效应晶体管,所述第一场效应晶体管和第二场效应晶体管的栅极都连接所述微控制芯片。本实用新型的一种芯片输入输出管脚测试装置与现有技术相比,本实用新型通过上述步骤,能够方便工程师快速测试I/O的状态,减少测试过程中的飞线等可能引起的故障。 |
申请公布号 |
CN204086449U |
申请公布日期 |
2015.01.07 |
申请号 |
CN201420588402.3 |
申请日期 |
2014.10.13 |
申请人 |
上海移为通信技术有限公司 |
发明人 |
赵超 |
分类号 |
G01R31/02(2006.01)I;G01R27/02(2006.01)I |
主分类号 |
G01R31/02(2006.01)I |
代理机构 |
上海翰信知识产权代理事务所(普通合伙) 31270 |
代理人 |
张维东 |
主权项 |
一种芯片输入输出管脚测试装置,其特征在于,包括:一微控制芯片,多组分别并联在电源电压与接地之间的检测单元,每组检测单元包括串联的第一电阻和第二电阻;第一检头,连接电源电压;第二探头,分别连接所述第一电阻和第二电阻之间的节点,并连接到所述微控制芯片的模数转换接口;每组检测单元的所述第一电阻分别串联一第一场效应晶体管,所述第二电阻分别串联一第二场效应晶体管,所述第一场效应晶体管和第二场效应晶体管的栅极都连接所述微控制芯片。 |
地址 |
200233 上海市闵行区宜山路1618号E厂房801A室 |