发明名称 | TaSiN膜之成膜方法 | ||
摘要 | 在处理容器内配置基板,对上述处理容器内导入具有Ta=N键结之有机Ta化合物气体、和含Si气体、和含N气体,然后藉由CVD来成膜TaSiN膜;此藉由控制处理容器内含Si气体之分压、处理容器内总压力、成膜温度、及含N气体之分压的最少一项,来控制膜中Si浓度。尤其,使用SiH4气体做为含Si气体时,在特定处理条件下,利用期望之膜中Si浓度可表现为SiH4气体分压之对数的一次函数,来决定SiH4气体的分压。 | ||
申请公布号 | TW200818271 | 申请公布日期 | 2008.04.16 |
申请号 | TW096122669 | 申请日期 | 2007.06.21 |
申请人 | 东京威力科创股份有限公司 | 发明人 | 中村和仁;山崎英亮;河野有美子 |
分类号 | H01L21/205(2006.01) | 主分类号 | H01L21/205(2006.01) |
代理机构 | 代理人 | 林志刚 | |
主权项 | |||
地址 | 日本 |