| 摘要 |
<p>Den foreliggende oppfinnelsen angår en fremgangsmåte, et system, datamaskinlesbart medium og datamaskinprogramprodukt for å kontrollere en fremgangsmåte for fremstilling av et lagdelt substrat. Fremgangsmåten omfatter trinnene: oppsamle (32) minst en første oppstilling av måledata relatert til parametere av et substrat i et første prosesstrinn plassert oppstrøms for et pressetrinn i translasjonsretningen (A) til befordringsmidlet (14); oppsamle (34) minst en andre oppstilling av måledata relatert til parametere av substratet i et andre prosesstrinn plassert oppstrøms for et pressetrinn i translasjonsretningen (A) til befordringsmidlet (14); og kontrollere (36) harpiksdosering ved anvendelse av oppsamlet måledata fra det første og andre prosesstrinnet og en beregnet kalibreringsmodell, hvor modellen er basert på oppsamlet måledata av substrater i det første og/eller andre prosesstrinnet.</p> |
