发明名称 |
一种提高光通量的光谱测量方法及系统 |
摘要 |
本发明提供了一种提高光通量的光谱测量方法及系统,所述方法是通过增大传统色散光谱仪或光谱测量系统中的入射狭缝的宽度,并在传统的色散光谱仪或光谱测量系统中的光栅后面增加一组成像镜头来测量零级光谱,利用该零级光谱和原有的光谱测量系统中所测的一级光谱之间的数学关系,通过计算得出新的光谱。该新的光谱比传统的采用较小狭缝的光谱测量系统获得的光谱具有更强的光能量,与此同时,还能保持采用较小狭缝的光谱测量系统所具有的高分辨率。本发明能有效的提高入射光谱仪器的光通量,并通过数学计算来保证较高的光谱分辨率。 |
申请公布号 |
CN104266755A |
申请公布日期 |
2015.01.07 |
申请号 |
CN201410514190.9 |
申请日期 |
2014.09.29 |
申请人 |
上海交通大学 |
发明人 |
黄梅珍;邹烨;;余镇岗;孙振华;季芸 |
分类号 |
G01J3/02(2006.01)I;G01J3/28(2006.01)I |
主分类号 |
G01J3/02(2006.01)I |
代理机构 |
上海汉声知识产权代理有限公司 31236 |
代理人 |
徐红银;郭国中 |
主权项 |
一种提高光通量的光谱测量方法,其特征在于,通过增大传统色散光谱仪或光谱测量系统中的入射狭缝的宽度,增大后的狭缝宽度大于原有入射狭缝一倍以上,并在传统的色散光谱仪或光谱测量系统中的光栅后面增加一组成像镜头来测量零级光谱,利用该零级光谱和原有的光谱测量系统中所测的一级光谱之间的数学关系,通过计算得出新的光谱。 |
地址 |
200240 上海市闵行区东川路800号 |