发明名称 用于定位具有纵横比的纳米对象的方法和装置
摘要 本发明特别涉及用于在表面上定位纳米对象(20)的装置和方法。该方法包括:提供(S10-S50)包括面对面的第一表面(15)和第二表面(17)的两个表面(15、17),其中所述两个表面的至少一个表面展现具有在纳米级尺寸的一个或者多个定位结构(16、16a);以及在所述两个表面之间的所述纳米对象的离子液体悬浮物(30),所述悬浮物包括两个双电层,每个所述双电层被形成在与所述两个表面的相应表面的界面处,所述两个表面的所述电表面电荷具有相同符号;以及根据由所述两个表面的所述电荷产生的势能(31)使(S60)在所述悬浮物中的纳米对象(20)定位,并且根据所述定位结构通过向所述第一表面偏移所述势能的最小值(32)而在所述第一表面上沉积(S70)所述纳米对象的一个或者多个纳米对象。
申请公布号 CN104272451A 申请公布日期 2015.01.07
申请号 CN201380021135.X 申请日期 2013.04.25
申请人 国际商业机器公司 发明人 U·T·迪里格;F·霍尔兹纳;A·W·诺尔;W·H·里斯
分类号 H01L21/768(2006.01)I 主分类号 H01L21/768(2006.01)I
代理机构 北京市金杜律师事务所 11256 代理人 王茂华
主权项 一种用于在表面上定位纳米对象(20)的方法,所述方法包括:提供(S10‑S50):包括面对面的第一表面(15)和第二表面(17)的两个表面(15、17),其中所述两个表面的至少一个表面展现具有在纳米级尺寸的一个或者多个定位结构(16、16a);以及在所述两个表面之间的所述纳米对象的离子液体悬浮物(30),所述悬浮物包括两个双电层,每个所述双电层被形成在与所述两个表面的相应表面的界面处,所述两个表面的所述电表面电荷具有相同符号;以及根据由所述两个表面的所述电荷产生的势能(31)使(S60)在所述悬浮物中的纳米对象(20)定位,并且根据所述定位结构通过向所述第一表面偏移所述势能的最小值(32)而在所述第一表面上沉积(S70)所述纳米对象的一个或者多个纳米对象。
地址 美国纽约阿芒克