发明名称 | CMP研磨液、基板研磨方法和电子部件 | ||
摘要 | 本发明提供一种CMP研磨液、基板研磨方法和电子部件。所述CMP研磨液为将第1液和第2液混合使用的CMP研磨液,第1液含有包含氧化铈粒子的铈系研磨粒、分散剂和水,第2液含有聚丙烯酸化合物、表面活性剂、磷酸化合物和水,第1液的pH为7.0以上,第2液的pH为6.5以上,以磷酸化合物的含量达到规定范围的方式混合第1液和第2液。 | ||
申请公布号 | CN102876236B | 申请公布日期 | 2015.01.07 |
申请号 | CN201210361951.2 | 申请日期 | 2010.12.10 |
申请人 | 日立化成株式会社 | 发明人 | 筱田隆;榎本和宏;阿久津利明 |
分类号 | H01L21/304(2006.01)I | 主分类号 | H01L21/304(2006.01)I |
代理机构 | 北京银龙知识产权代理有限公司 11243 | 代理人 | 金鲜英;刘强 |
主权项 | 一种CMP研磨液,其为将第1液和第2液混合使用的CMP研磨液,所述第1液含有包含氧化铈粒子的铈系研磨粒、分散剂和水,所述第2液含有聚丙烯酸化合物、表面活性剂、磷酸或磷酸衍生物中的至少一方的磷酸化合物和水,所述第1液的pH为7.0以上,所述第2液的pH为6.5以上,以所述磷酸化合物的含量在以CMP研磨液总质量为基准时达到0.01~1.0质量%的方式混合所述第1液和所述第2液。 | ||
地址 | 日本东京都千代田区丸内一丁目9番2号 |