用于PCB电气性能测试的复合治具

摘要

本实用新型适用于PCB板技术领域，提供了一种用于PCB电气性能测试的复合治具，包括上下相对设置的上、下模，上、下模均设有针盘、线盘及底板，底板上设有针脚，针盘上设有探针，针脚的分布密度与测试机测试针的分布密度相同；线盘上设置有数量与探针数量相同的导线；探针穿出针盘的上下表面，其一端接触PCB板上的测试点，另一端与导线的一端电连接，导线的另一端与针脚电连接；探针的分布密度与PCB板测试点分布密度相同，且为针脚分布密度的整数倍。上述复合治具，解决了PCB板测试点分布密度与测试机测试针分布密度不匹配的问题，合理稼动了闲置的测试机，节约了费用；同时，针脚直接与测试针接触测试，无需排线连接，操作简便。

主权项

一种用于PCB电气性能测试的复合治具，包括上下相对设置的上、下模，所述上、下模均设置有针盘，所述针盘上设置有探针，所述探针穿出所述针盘的上下表面，其一端可接触PCB板上的测试点，其特征在于，所述上、下模还分别设置有线盘及底板，所述底板上设置有针脚，所述针脚的分布密度与测试机的测试针的分布密度相同；所述线盘上设置有导线，所述导线的数量与所述探针的数量相同，所述探针的另一端与所述导线的一端电连接，所述导线的另一端与所述针脚电连接；所述探针的分布密度与所述PCB板上的测试点分布密度相同，且为所述针脚分布密度的整数倍。