| 发明名称 | 污染物识别系统 | ||
| 摘要 | 一种用于检查复合工件的方法和装置。对被引导到所述复合工件的表面的电磁辐射的响应针对所述复合工件的所述表面上的多个位置中的每一个被分离成多个波长。根据针对所述多个位置中的所述每一个的所述多个波长来识别所述复合工件的所述表面上的一组污染物。所述复合工件的所述表面的二维图像被生成为具有一组图形指示器，所述一组图形指示器指示根据针对所述复合工件的所述表面上的所述多个位置中的所述每一个的所述多个波长识别的所述一组污染物。 | ||
| 申请公布号 | CN104272093A | 申请公布日期 | 2015.01.07 |
| 申请号 | CN201380024276.7 | 申请日期 | 2013.02.13 |
| 申请人 | 波音公司 | 发明人 | M·萨法伊;K·D·梅雷迪思 |
| 分类号 | G01N21/94(2006.01)I | 主分类号 | G01N21/94(2006.01)I |
| 代理机构 | 北京三友知识产权代理有限公司 11127 | 代理人 | 吕俊刚;刘久亮 |
| 主权项 | 一种用于检查复合工件(206)的方法，该方法包括：将对被引导到所述复合工件(206)的表面(212)的电磁辐射(224)的响应(228)针对所述复合工件(206)的所述表面(212)上的多个位置(226)中的每一个分离成多个波长(230)；根据针对所述多个位置(226)中的所述每一个的所述多个波长(230)来识别所述复合工件(206)的所述表面(212)上的一组污染物(210)；以及生成所述复合工件(206)的所述表面(212)的具有一组图形指示器(242)的二维图像(236)，所述一组图形指示器(242)指示根据针对所述复合工件(206)的所述表面(212)上的所述多个位置(226)中的所述每一个的所述多个波长(230)识别的所述一组污染物(210)。 | ||
| 地址 | 美国伊利诺斯州 | ||